
泰克TAP4000低壓?jiǎn)味颂筋^
廠(chǎng)商名稱(chēng):泰克/TEKTRONIX
產(chǎn)品型號(hào):TAP4000
市場(chǎng)價(jià)格:¥ (僅供參考)
貨期:現(xiàn)貨
- 詳細(xì)說(shuō)明
- 產(chǎn)品手冊(cè)
泰克TAP4000低壓?jiǎn)味颂筋^
一、主要參數(shù)及性能特點(diǎn):
衰減比(Attenuation):10X
帶寬(Bandwidth):4 GHz
輸入阻抗(Input Impedance):40 k?||≤0.8 pF(40千歐姆并聯(lián)小于等于0.8皮法)
最大輸入電壓(Maximum Voltage):±4 V
應(yīng)用場(chǎng)景:用于測(cè)量低于12V以地參考的高速信號(hào)。
低輸入電容的意義及影響:
探頭輸入電容是影響高頻信號(hào)測(cè)量準(zhǔn)確性的關(guān)鍵因素之一。較高的輸入電容會(huì)引入額外的負(fù)載,改變被測(cè)電路的特性,導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果失真。泰克TAP4000探頭以其低輸入電容(≤0.8 pF)為主要賣(mài)點(diǎn),這體現(xiàn)了以下幾個(gè)方面的優(yōu)勢(shì):
降低對(duì)電路的負(fù)載影響:低輸入電容意味著探頭對(duì)被測(cè)電路的負(fù)載更小,能夠更精確地反映電路的真實(shí)工作狀態(tài)。這在對(duì)高阻抗、高頻電路元件進(jìn)行測(cè)量時(shí)尤為重要,因?yàn)檫@些電路元件對(duì)負(fù)載變化非常敏感。較大的負(fù)載可能導(dǎo)致信號(hào)衰減、振蕩或其他非線(xiàn)性行為,從而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。
提高高頻測(cè)量精度:在高頻下,即使是很小的電容也會(huì)引入顯著的容抗,從而影響信號(hào)的完整性。低輸入電容能夠確保在更高頻率下保持較高的輸入阻抗,減少信號(hào)的衰減和失真,提高測(cè)量精度。較高的輸入阻抗意味著探頭對(duì)電路的干擾更小,可以更準(zhǔn)確地捕捉高速信號(hào)的細(xì)節(jié)。
提升測(cè)量帶寬:較低的輸入電容直接關(guān)系到探頭的帶寬。低輸入電容使得探頭能夠在更寬的頻率范圍內(nèi)保持穩(wěn)定的性能,從而確保在4 GHz帶寬范圍內(nèi)獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。
應(yīng)用場(chǎng)景及適用范圍:
泰克TAP4000低壓?jiǎn)味颂筋^主要應(yīng)用于以下場(chǎng)景:
高速數(shù)字電路測(cè)試:在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)和調(diào)試中,需要對(duì)信號(hào)的上升沿、下降沿、抖動(dòng)等參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量。低壓?jiǎn)味颂筋^能夠在不顯著影響電路工作的情況下,提供準(zhǔn)確的信號(hào)測(cè)量結(jié)果。
高頻模擬電路測(cè)試:對(duì)于高頻模擬電路,如射頻電路、高速放大器等,需要使用低負(fù)載的探頭來(lái)避免測(cè)量結(jié)果的失真。TAP4000探頭的低輸入電容使其成為這類(lèi)應(yīng)用的理想選擇。
嵌入式系統(tǒng)調(diào)試:在嵌入式系統(tǒng)調(diào)試過(guò)程中,經(jīng)常需要測(cè)量各種高速信號(hào),例如時(shí)鐘信號(hào)、數(shù)據(jù)總線(xiàn)信號(hào)等。TAP4000探頭能夠提供精確的測(cè)量結(jié)果,幫助工程師快速定位和解決問(wèn)題。
其他高阻抗、高頻電路測(cè)量:凡是在測(cè)量過(guò)程中需要將探頭負(fù)載影響降至最低的應(yīng)用場(chǎng)合,TAP4000都展現(xiàn)出其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。
泰克TAP4000低壓?jiǎn)味颂筋^憑借其4 GHz的帶寬、40 k?||≤0.8 pF的輸入阻抗以及±4V的最大輸入電壓等優(yōu)異參數(shù),以及其低輸入電容帶來(lái)的低負(fù)載特性,成為高速信號(hào)測(cè)量領(lǐng)域的理想選擇。其廣泛應(yīng)用于各種高頻、高阻抗電路的測(cè)量,為工程師提供準(zhǔn)確、可靠的測(cè)量數(shù)據(jù),從而提高設(shè)計(jì)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。低輸入電容的設(shè)計(jì)理念是該探頭核心競(jìng)爭(zhēng)力的體現(xiàn),它有效地解決了高頻測(cè)量中探頭負(fù)載干擾的問(wèn)題,為工程師提供了更精準(zhǔn)、更可靠的測(cè)量手段。
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