4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)采用了模塊化、可配置、可升級(jí)的架構(gòu)。這使得它能夠準(zhǔn)確滿足當(dāng)前的測(cè)量需求，也可以模塊擴(kuò)展以滿足后續(xù)的需求。 

支持多達(dá)9個(gè)精密直流源測(cè)量單元，能夠提供測(cè)量0.1fA到1A的電流或者1uV-210V的電壓； 

利用4210-CVU?-V）模塊可以方便的在1KHz-10MHz測(cè)試頻率下進(jìn)行交流阻抗測(cè)試，可以測(cè)量的電容范圍從aF級(jí)到uF級(jí)； 
利用可選的4225-PMU超快I-V模塊可以進(jìn)行脈沖和瞬態(tài)測(cè)量。 

吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶界面，無(wú)需編程即可支持幾乎所有類型的特性分析測(cè)試。它提供了多達(dá)456種標(biāo)準(zhǔn)的特性分析測(cè)試庫(kù)，包括MOSFET、BJT晶體管、二極管、電阻器、電容器、太陽(yáng)能電池、碳納米管和NVM存儲(chǔ)器，例如Flash、PRAM、PCRAM等。 

配備可滿足各類測(cè)試要求的高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng)。