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 阻抗分析儀IM3570

阻抗分析儀IM3570

阻抗分析儀IM3570適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量,分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

廠商名稱:日置/HIOKI

產(chǎn)品型號:IM3570

市場價格:¥0.0 (僅供參考)

貨期:現(xiàn)貨

  • 詳細說明
  • 產(chǎn)品手冊

阻抗分析儀IM3570產(chǎn)品介紹:
1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
主機不標配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。

阻抗分析儀IM3570產(chǎn)品規(guī)格:


測量模式LCR(LCR測量),分析儀(掃描測量),連續(xù)測量
測量參數(shù)Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
測量量程100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數(shù)由Z確定)
顯示范圍Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[單位]~9.999999G[單位],僅Z和Y顯示絕對值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
測量頻率4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進)
測量信號電平V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步進(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步進(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步進(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步進(1.0001MHz以上)
輸出阻抗普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
顯示彩色TFT5.7英寸,可設置顯示ON/OFF
測量時間0.5ms(100kHz,F(xiàn)AST,顯示OFF,代表值)
測量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能DC偏壓測量,比較功能,面板讀取和保存,存儲功能
接口EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通訊,U盤,LAN
電源AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
打印拷貝測量值或屏幕顯示的要點(需用9442,9593-01和9446)
接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有標準)
電源AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
體積和重量330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件電源線×1,使用說明書×1,通訊手冊×1


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