吉時利2400源表在PIN硅輻射探測IV曲線測試應(yīng)用
近日，有客戶找到我們需要測PIN的IV特性，客戶反饋了解過吉時利2400系列源表測試會出現(xiàn)屏幕無法顯示曲線問題，了解客戶需求后，為了更好的完成測試，我們及時做出了一套測試方案，去客戶現(xiàn)場進行測試，接下來為大家分享PIN硅輻射探測IV曲線的測試案例！
PIN硅輻射探測器是一種用于探測輻射的半導(dǎo)體探測器，它通常由P型硅、I型硅和N型硅層組成。PIN探測器具有高能分辨率和高探測效率的特點，因此在核物理實驗、醫(yī)學(xué)成像和輻射監(jiān)測等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
PIN硅輻射探測器的工作原理是通過輻射粒子在探測器中產(chǎn)生的電子空穿和電子空穴引起的電荷移動來測量輻射能量。當(dāng)輻射粒子進入探測器時，它會與硅晶格中的原子發(fā)生相互作用，產(chǎn)生電子空穿和電子空穴。這些電荷在電場的作用下被分離并收集到探測器的電極上，產(chǎn)生一個電荷脈沖信號。通過測量這個信號的幅度和時間分布，可以確定輻射粒子的能量和入射位置。
為了確定PIN硅輻射探測器的性能，我們首先使用的是吉時利2400源表+kickstart上位機軟件進行測試，在測試PIN的IV曲線時，需要將樣品放在不透光的環(huán)境中，所以在測試時，我們將樣品放在了一個密閉的盒子，一鍵測試就可完成。
吉時利2400源表+kickstart上位機軟件
測試中可看到我們采用的是吉時利2400源表+kickstart上位機軟件可順利完成測試。
此次測試我們更推薦使用2450源表進行測試，新款2400系列圖形化系列源表在外觀上可直接看出較大的區(qū)別，它可實現(xiàn)觸屏操作，操作更加簡單，在源表屏幕上可以直接顯示IV曲線，不需要上位機就可直觀看到測試結(jié)果，操作簡單，測試便捷，所以我們更推薦2450系列源表。
以上是安泰測試為大家分享的關(guān)于PIN硅輻射探測IV曲線測試方案。安泰測試作為泰克吉時利產(chǎn)品的長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測試方案的提供，并獲得客戶的高度認可，如您想了解吉時利源表更多產(chǎn)品應(yīng)用，歡迎關(guān)注西安安泰測試。
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