吉時利2450源表在薄膜材料電阻率測試中的應(yīng)用
最近，我遇到了一個關(guān)于測試薄膜材料電阻率的項目?？蛻粜枰粋€探針臺，并且需要配備一臺儀器來進(jìn)行電阻率測試。為了滿足客戶的要求，我決定采用四探針法加上源表的方法來進(jìn)行薄膜材料的電阻率測試。
四探針法是一種常用的測試電阻率的方法，它通過使用四個探針來測量薄膜材料的電阻。這種方法可以減少接觸電阻的影響，提高測試的準(zhǔn)確性。而源表則是一種用于電阻測試的儀器，它可以提供穩(wěn)定的電流源和精確的電壓測量，從而實現(xiàn)精準(zhǔn)的電阻率測試。
測試方案搭配：
方案一：
探針臺+源表
探針臺示意圖
源表示意圖
搭配示例：
廣州四探針RTS-2型臺子：
基本指標(biāo)：
間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻:≥1000MΩ；
機(jī)械游移率:≤0.3％；
探針：碳化鎢或高速鋼材質(zhì)，探針直徑Ф0.5mm；
探針壓力：5～16牛頓(總力)；
原理簡述：
什么是電阻率？
一種材料的電阻率表征的是阻礙電流流過的能力的大小。其單位為Ω·m/Ω·cm。如果電流很容易在某種材料中流過，那么該材料有較低的電阻率；如果電流很難流過某種材料，那么該材料有較高的電阻率，電阻率為材料的本質(zhì)物理屬性，與大小和形狀無關(guān)。
常見材料電阻率：
薄膜材料電阻率測試----方塊電阻：
ρ：單位Ω·m
V:測得的電壓
I：測得的電流
W:寬
H:高
L:長
補(bǔ)充：
?通常需要測各種材料的薄膜或薄片電阻，如果材料可以做成長方形，那么就可以像測量條狀樣品一樣測量電阻率；
?有一種特殊情況，當(dāng)W寬度和L長度相等時，此時材料為正方形，電阻值被稱為方塊電阻Rs，即表面電阻率。
薄膜材料電阻率測試----四探針法：
?對于任意形狀和任意大小的薄膜材料，比較方便的方法是四探針法
?要求：
?、偎狞c共線②四根針等間距③材料長度和寬度遠(yuǎn)大于探針間距。
測試提示：
探針接觸方式
探針接觸應(yīng)保持一定的壓力，但不同材料的性質(zhì)不同，有些材料的電阻率會隨外加壓力變化而改變，因而測試前要依據(jù)具體的測試材料而適當(dāng)?shù)母淖兲结槈毫ΑＪ紫扔么终{(diào)鍵旋轉(zhuǎn)探針至樣品表面，略有壓力后停止。再細(xì)調(diào)一定距離，保證測量時表面讀數(shù)穩(wěn)定后即可。
總而言之，為了滿足客戶的需求，我決定采用四探針法+源表的方法來進(jìn)行薄膜材料的電阻率測試。這種方法可以提供準(zhǔn)確的測試結(jié)果，并且避免了接觸電阻的影響。通過這種方法，我們可以為客戶提供高質(zhì)量的測試服務(wù)。
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