同惠TH510在功率器件CV特性解決方案
隨著科技的發(fā)展，現(xiàn)有半導(dǎo)體材料已經(jīng)經(jīng)過了三個發(fā)展階段，第三代半導(dǎo)體展現(xiàn)出了高壓、高頻、高速、低阻的優(yōu)點(diǎn)，其擊穿電壓，在在某些應(yīng)用中可高到1200-1700V。這些特點(diǎn)帶來如下新特性：
極低的內(nèi)部電阻，與同類硅器件相比，效率可提高70%
低電阻可改善熱性能(最高工作溫度增加了)和散熱，并可獲得更高的功率密度
散熱得到優(yōu)化，與硅器件相比，就可采用更簡單的封裝、尺寸和重量也大大減少
極短的關(guān)斷時間(GaN器件接近于零)，能工作于很高的開關(guān)頻率，工作溫度也更低
這些特性，在功率器件尤其是MOSFET以及IGBT上面的應(yīng)用最為廣泛。
因此，在第三代半導(dǎo)體高速發(fā)展的同時，測量技術(shù)也面臨全面升級，特別是高電壓、大電流、高頻率測試，以及電容特性（CV）特性。
現(xiàn)今，市場上功率器件CV特性測試儀器，普遍存在下列痛點(diǎn)：
1.進(jìn)口設(shè)備
進(jìn)口設(shè)備功能全、一體化集成度高、測試準(zhǔn)確，但是有如下缺點(diǎn)：
a)價格昂貴，動則幾十萬甚至上百萬的價格，一般企業(yè)很難承受。
b)操作繁瑣，集成了太多功能加上大多英文化的操作界面，對于用戶操作并不友好。
c)測試效率低，一臺設(shè)備可能完成動態(tài)特性、靜態(tài)特性的全部測試，但是接線負(fù)責(zé)、操作難度大，測試結(jié)果用時較長，測試效率無法保障。
2.國產(chǎn)設(shè)備
在進(jìn)口設(shè)備無法滿足用戶測試需求的情況下，國產(chǎn)設(shè)備應(yīng)運(yùn)而生，以相對功能單一、操作方便、價格低廉快速占領(lǐng)了一部分市場，但是，這些設(shè)備同樣也有如下缺點(diǎn)：
a）體積龐大，大多數(shù)國產(chǎn)設(shè)備，由于沒有專業(yè)的電容測試經(jīng)驗，通常是用幾臺電源、一臺LCR、工控機(jī)或者PLC、機(jī)箱、測試工裝等組合而成，因此體積過大，無法適用于自動化產(chǎn)線快速生產(chǎn)。
b）漏源電壓VDS過低，大多最高只能達(dá)到1200V左右，已無法滿足第三代半導(dǎo)體功率器件測試需求。
c）測量精度低，由于缺乏專業(yè)電容測量經(jīng)驗，加上過多的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致電容特別是pF級別的小電容無法達(dá)到合適的測量精度。
d）測試效率低，同樣由于組合儀器過多，加上需用工控機(jī)或PLC控制過多儀器，導(dǎo)致測試單個器件時間過長。
e）擴(kuò)展性差，由于設(shè)備過多，各種儀器不同的編程協(xié)議，很難開放第三方接入以集成至客戶產(chǎn)線自動化測試整體方案中。
針對這些痛點(diǎn)同惠推出了針對半導(dǎo)體功率器件CV特性的解決方案。
TH510系列半導(dǎo)體半導(dǎo)體C-V特性分析儀，TH510系列半導(dǎo)體半導(dǎo)體C-V特性分析儀，標(biāo)配2通道，可擴(kuò)展至6通道，適合多個單管器件或模組器件測試，提供RS232C、USB、LAN接口，SCPI協(xié)議，支持HANDLER接口交互，可方便集成與自動化產(chǎn)線或功率電子測試系統(tǒng)，如果您有更多疑問或需求可以關(guān)注西安安泰測試Agitek哦！非常榮幸為您排憂解難。
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