在現(xiàn)代電子產(chǎn)品開發(fā)中，嵌入式系統(tǒng)、高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)日益復(fù)雜，調(diào)試難度也隨之提升。傳統(tǒng)的調(diào)試方法常常需要同時使用示波器和邏輯分析儀，這不僅增加了設(shè)備成本和操作