在電子電路、電力系統(tǒng)以及材料科學(xué)等領(lǐng)域，低電阻的精確測量至關(guān)重要。低電阻測量通常面臨諸多挑戰(zhàn)，例如接觸電阻的影響、熱電勢的干擾以及儀器自身的噪聲等。是德34

　　電阻測量是電子測試和電路調(diào)試中最基礎(chǔ)也是最重要的環(huán)節(jié)之一。然而，對于低阻值電阻，傳統(tǒng)的二線法測量由于引線電阻的影響，會導(dǎo)致較大的測量誤差。為了克服這一難題，