現(xiàn)代電子系統(tǒng)日益復(fù)雜，對測試和驗(yàn)證設(shè)備的要求也越來越高。作為電子設(shè)計自動化(EDA)流程中不可或缺的一部分，任意波形發(fā)生器(Arbitrary Wavefo

　　在現(xiàn)代高速數(shù)字電路設(shè)計中，信號完整性至關(guān)重要。任何信號完整性問題都可能導(dǎo)致系統(tǒng)性能下降，甚至完全失效。為了確保設(shè)計的可靠性和穩(wěn)定性，工程師需要采用先進(jìn)的測試