同惠 TH2830 系列高頻 LCR 測試儀實現(xiàn)精密阻抗測量的方式
在電子測量領(lǐng)域,同惠 TH2830 系列高頻 LCR 測試儀憑借出色的性能,成為精密阻抗測量的得力工具。它主要通過先進(jìn)的硬件設(shè)計、精準(zhǔn)的軟件算法、嚴(yán)格的測試環(huán)境控制和高效的校準(zhǔn)技術(shù)來實現(xiàn)精密阻抗測量。
先進(jìn)的硬件設(shè)計
寬頻信號源:該系列測試儀配備了可覆蓋 50Hz 至 100kHz 頻率范圍的寬頻信號源,這一特性使它能夠適應(yīng)多種電子元件在不同頻段下的測試需求。例如,對于低頻濾波電容和高頻電感,都能提供合適的測試頻率。信號源輸出阻抗可選 30Ω 或 100Ω,以此適配不同的測試環(huán)境,確保信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
高精度 ADC:采用 24 位 ΔΣ 型 ADC,擁有 120dB 的動態(tài)范圍。這種高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換器能夠增強(qiáng)對微弱信號的檢測能力,極大地降低量化誤差。在測量低感值電感(如 μH 級)或高 Q 值電感時,可有效避免因分辨率不足導(dǎo)致的誤差,從而提高測量的精度和可靠性。
低寄生參數(shù)測試夾具:高頻測試中,寄生參數(shù)對測量結(jié)果影響顯著。TH2830 系列優(yōu)先采用四端開爾文(4TOS)測試夾具,該夾具通過獨立的電流 / 電壓路徑,能夠有效消除線纜及接觸電阻。對于 1MHz 以上的高頻場景,建議使用低寄生電感(<0.2nH)的 SMD 夾具,以確保高頻電容測量的精度,減少寄生參數(shù)帶來的測量偏差。
電磁屏蔽與接地設(shè)計:儀器采用雙層屏蔽機(jī)箱,內(nèi)層為銅箔,外層為穆金屬,能有效抑制外界電磁干擾,如工頻干擾和射頻干擾。同時,優(yōu)化接地系統(tǒng),將儀器地、信號地、電源地分開布線,減少地線環(huán)路干擾,為精密測量創(chuàng)造穩(wěn)定的內(nèi)部環(huán)境。
精準(zhǔn)的軟件算法
數(shù)字濾波技術(shù):引入 IIR/FIR 濾波器,專門用于濾除工頻諧波干擾,確保測量信號的純凈度。在復(fù)雜的電磁環(huán)境中,這些濾波器能夠有效去除電網(wǎng)帶來的干擾信號,使測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。
誤差補(bǔ)償算法:結(jié)合內(nèi)置溫度傳感器,建立三維誤差補(bǔ)償模型,實時修正因溫度漂移導(dǎo)致的元件參數(shù)變化。例如,當(dāng)環(huán)境溫度發(fā)生變化時,該模型可對電感、電容等元件的參數(shù)進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,從而將溫度對測量結(jié)果的影響控制在極小范圍內(nèi)。通過機(jī)器學(xué)習(xí)算法對歷史測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,能夠動態(tài)調(diào)整激勵電平與積分時間,以優(yōu)化不同阻抗值測量時的信噪比,進(jìn)一步提高測量精度。
嚴(yán)格的測試環(huán)境控制
溫濕度控制:維持恒定的溫度和濕度對阻抗測試至關(guān)重要。理想的測試環(huán)境溫度應(yīng)保持在 23±2℃,濕度控制在 40% - 60% RH。極端的溫度變化和濕度波動可能導(dǎo)致元件參數(shù)改變以及測試夾具接觸電阻變化,從而影響測量精度。例如,當(dāng)濕度超過 80% 時,測試夾具接觸電阻可能增加 20%,顯著影響測量結(jié)果。
電磁環(huán)境隔離:測試區(qū)域應(yīng)遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁干擾源,如高功率設(shè)備和無線設(shè)備。有條件的情況下,可使用電磁屏蔽室進(jìn)行高頻測試,減少外界射頻干擾(RFI)對測量的影響。在未屏蔽的環(huán)境中測試精密射頻電感時,測量誤差可能高達(dá) 15%,而在屏蔽環(huán)境下可降至 1%。
測試線管理:使用低寄生參數(shù)的專用測試線,且長度應(yīng)盡量縮短(<1m)。過長的測試線可能引入附加電感,影響低感值測量精度。例如,2m 長的測試線可能引入 0.5μH 的寄生電感,對測量結(jié)果產(chǎn)生較大干擾。
高效的校準(zhǔn)技術(shù)
自動校準(zhǔn)功能:儀器具備自動校準(zhǔn)功能,可定期(建議每 24 小時)使用 0.01% 精度的標(biāo)準(zhǔn)電容、電感等對全量程進(jìn)行校準(zhǔn)。采用最小二乘法優(yōu)化校準(zhǔn)系數(shù),確保校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性和可靠性。通過定期校準(zhǔn),能夠及時消除儀器自身的系統(tǒng)誤差,保證測量結(jié)果的長期穩(wěn)定性。
開路、短路和負(fù)載校準(zhǔn):支持對當(dāng)前設(shè)定頻率點進(jìn)行開路、短路和負(fù)載校準(zhǔn),可提供 201 個校正點。這種校準(zhǔn)方式能夠針對不同的測試頻率和實際測試情況,對測量結(jié)果進(jìn)行精確修正,減少因測試環(huán)境和連接方式等因素導(dǎo)致的誤差。
智能歸零功能:智能歸零功能通過多點校準(zhǔn)消除系統(tǒng)誤差,確保每次測試的基準(zhǔn)一致性。該功能在測試前自動對儀器進(jìn)行零點校準(zhǔn),避免零點漂移對測量結(jié)果的影響,進(jìn)一步提高測量的準(zhǔn)確性。
通過以上先進(jìn)的硬件設(shè)計、精準(zhǔn)的軟件算法、嚴(yán)格的測試環(huán)境控制以及高效的校準(zhǔn)技術(shù),同惠 TH2830 系列高頻 LCR 測試儀能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的阻抗測量,滿足電子元件研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量檢測等領(lǐng)域?qū)軠y量的嚴(yán)苛要求。
技術(shù)支持
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